Descubre anticipadamente problemas de bancos de
memoria
El fabricante de memorias Kingston patentó un dispositivo que permite encontrar
tempranamente fallas en bancos de memoria para sistemas de computación.
Diseñado originalmente como un evaluador para los módulos de memoria de servidor, Kingston KT2400 puede adaptarse para probar una gran
variedad de estándares de módulos de memoria, informó la compañía.
?Nos complace haber ganado la patente para KT2400?, dijo el doctor Ramon Co, vicepresidente de Ingeniería de Pruebas a Nivel Mundial
en Kingston y co-inventor del evaluador KT2400.
?Durante las primeras etapas de diseño de KT2400, nuestra misión era crear un evaluador que permitiera que los módulos resistieran las
pruebas más exigentes, simulando los ambientes de servidores más demandantes?, continuó el Dr. Co.
?El tipo más común de error de fallo de confiabilidad en la memoria es el Early-Life Failure (ELF), el cual se define como un fallo
que ocurre durante los tres primeros meses de una operación normal. Nuestro objetivo era diseñar un evaluador que simulara el periodo
ELF y que se deshiciera de cualquier módulo marginal?, agregó el doctor Co.
Resultados de las pruebas de KT2400 Burn-In Tester
Cada probador KT2400, por medio del uso de tarjetas de pruebas especialmente diseñadas llamadas Advanced Pattern Testing Controllers,
puede probar hasta 500 módulos de forma simultánea.
Durante el proceso de prueba, los módulos de servidor se someten a un ambiente a altas temperaturas, de altos niveles de estrés y de
alto voltaje con celdas de memoria ejercitadas continuamente por un periodo específico de tiempo.
El proceso de prueba acelera la vida de los módulos, simulando así tres meses de la operación normal. De esta forma, los módulos
marginales que de otra forma fallarían en el campo son monitoreados en la fábrica antes de que sean entregados.